半導体パッケージ向け基板材料「LEXCM GX」シリーズ

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半導体パッケージの薄型化・小型化、反り低減を実現
  • 既存品番と新規品番にて、一部、UL認証項目の内容について差異がある場合がございます。
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品番末尾の( )カッコ内の文字は当社における識別区分であり、UL認証の登録をしている品番には含まれておりません。
サフィックス

ラインアップ

LEXCM GX Line-up

一般特性

項目試験方法条件単位   R-1515V      R-1515K   
ガラス転移温度(Tg)DMA※2A°C260260
熱膨張係数(タテ/ヨコ方向)α1社内法Appm/°C3-57
比誘電率(Dk)※11GHzIPC-TM-650 2.5.5.9C-24/23/504.44.6
誘電正接(Df)※10.0160.015
曲げ弾性率※1JIS C 648125°CGPa3027
250°C1412
項目試験方法条件単位   R-1515W      R-1515A   
ガラス転移温度(Tg)DMA※2A°C250205
熱膨張係数(タテ/ヨコ方向)α1社内法Appm/°C912
比誘電率(Dk)※11GHzIPC-TM-650 2.5.5.9C-24/23/504.84.8
誘電正接(Df)※10.0150.015
曲げ弾性率※1JIS C 648125°CGPa3527
250°C2110
項目試験方法条件単位R-G515SR-G515ER-151YE
R-1515E
ガラス転移温度(Tg)DMA※2A°C220-240220-240270
熱膨張係数(タテ/ヨコ方向)α1社内法Appm/°C4-66-89
比誘電率(Dk)※11GHzIPC-TM-650 2.5.5.9C-24/23/504.24.44.7
誘電正接(Df)※10.0080.0080.011
曲げ弾性率※1JIS C 648125°CGPa282433
250°C18

試験片の厚さは0.1mmです。
※1 0.8mm
※2 引張りモードでの測定、R-1515W, R-1515A:曲げモードでの測定

上記データは当社測定による代表値であり、保証値ではありません。

当社のハロゲンフリー材料は、JPCA-ES-01-2003の定義に拠るものです。
含有率が塩素(Cl):0.09wt%(900ppm)以下、臭素(Br):0.09wt%(900ppm)以下、 塩素(Cl)+臭素(Br):0.15wt%(1500ppm)以下