
- 大容量データの伝送速度の高速化に対応
- 高多層や基板加工時のリフロー工程に対応した耐熱性を向上(MEGTRON4S)
商品紹介動画
伝送損失パフォーマンス(MEGTRONシリーズ)

伝送損失比較

高多層耐熱性

誘電特性

はんだフロート耐熱性

IST(Interconnect Stress Test)

一般特性
項目 | 試験方法 | 条件 | 単位 | MEGTRON4 R-5725 |
MEGTRON4S R-5725S |
|
---|---|---|---|---|---|---|
ガラス転移温度(Tg) | DSC | A | °C | 176 | 200 | |
熱膨張係数(厚さ方向) | α1 | IPC-TM-650 2.4.24 | A | ppm/°C | 35 | 32 |
α2 | 265 | 250 | ||||
T288(銅付) | IPC-TM-650 2.4.24.1 | A | 分 | 30 | 50 | |
比誘電率(Dk) | 10-13GHz | 平衡型円板共振器法 | C-24/23/50 | - | 3.68 [13GHz] | 3.8※ [10GHz] |
誘電正接(Df) | 0.0074 [13GHz] | 0.007※ [10GHz] | ||||
銅箔引き剥がし強さ | 1oz(35μm) | IPC-TM-650 2.4.8 | A | kN/m | 1.2 [ST] | 1.4 [ST] |
試験片の厚さは0.8mmです。
※試験方法:IPC-TM-650 2.5.5.5
上記データは当社測定による代表値であり、保証値ではありません。